國家知識產權局信息顯示,中芯國際集成電路制造(上海)有限公司申請一項名為“半導體結構及其形成方法”的專利,公開號CN 119767774 A,申請日期為2023年9月。
專利摘要顯示,一種半導體結構及其形成方法,阻 隔 層形成在所述第一功函 數層的側壁上,第二功函 數層形成在阻隔層的側 壁上,阻隔層將第二功函 數層和第一功函數層相 隔離,第二功函數層中的 元素不易穿過阻隔層擴 散到第一功函數層中,因此第一晶體管和第二晶體管之間不易 出現電學參數失配(Mismatch)的問題,半導體結構工作時,第 一功函數層能夠很好的對后續形成的第一晶體管進行閾值電 壓的調節,第二功函數層能夠很好的對后續形成的第二晶體管 進行閾值電壓的調節,有利于提高半導體結構的電學性能。
天眼查資料顯示,中芯國際集成電路制造(上海)有限公司,成立于2000年,位于上海市,是一家以從事計算機、通信和其他電子設備制造業為主的企業。企業注冊資本244000萬美元,實繳資本244000萬美元。通過天眼查大數據分析,中芯國際集成電路制造(上海)有限公司共對外投資了4家企業,參與招投標項目119次,財產線索方面有商標信息147條,專利信息5000條,此外企業還擁有行政許可443個。